探针台测试设备

探针台测试设备

型号︰PW-600

品牌︰Advanced

原产地︰台湾 中国

单价︰US $ 150000 / 件

最少订量︰1 件

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产品描述

  在显微镜底下,利用探针搭接于IC内部线路,使其可以外接各类设备,以便量测或输入讯号:
     
探针分为硬针和软针。硬针以针尖1um5um粗细为主要应用规格:软针针尖 <1um,主要应用在高频电路及FIB probing PAD;当EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等在无适当治具或socket可用时,可由点针方式提供讯号输入输出;Wafer可搭配Probe card做各项测试;

      探针台或检视台上添加激光切割系统,实现切断或熔断后再连接的修补功能。

1. 载盘中心孔径 250µm其间开有2“, 4”, 6“真空吸槽,可吸附6, 8英寸以下之Wafer及单颗IC

2. X-Y Stage满行程移动范围6, 8英寸,即载盘的任意边缘点都可以移至显微镜中心点进行量测

3. X-Y采用Huged-Knob设计操作,Lead screw采用进口技术防止Backlach现象,保证1µm移动精度

4. 显微镜X-Y-Z 三个方向可以移动,移动范围50 x 50 x 50mm,移动精度1µm

5. 显微镜有专用的把手,可以把显微镜抬起,便于镜头切换

6. 载盘采用6点支撑、稳固耐用,保证升降的水平效果;设有快速lever及精细knob,方便使用探针卡

7. 载盘有快速导入导出功能,人性化的上下料,并且在测试时可以锁住,保证测试的稳定性